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激光線寬分析儀 LWA-10k NIR

用于測量、分析和實時監(jiān)測激光器頻率噪聲的通用線寬分析儀

 

激光光源頻率和相位噪聲的表征從未如此簡單:LWA-10k使用戶能夠在寬波長范圍內以高精度表征和優(yōu)化激光光源,包括電信光源的O-/E-S-C-和L-波段,以及紅外范圍內量子光學應用的典型波長。

 

LWA-10k通過單模光纖提供激光(可使用任意光偏振),提供與激光器頻率偏差成比例的實時模擬電壓輸出。檢測技術基于干涉測量原理,因此不需要額外的高穩(wěn)定窄光基準。

激光線寬分析儀 LWA-10k  NIR
產品特點
· 測試波長:1064-1625nm
· 線寬范圍:5kHz-10MHz
· 低頻率噪聲
· 高穩(wěn)定性
· 快速測試
典型應用
· 測量激光源的固有(洛倫茲)和有效(光學)線寬
· 利用頻率噪聲密度譜進行頻率分辨激光噪聲分析
· 激光控制單元特性(電源噪聲、接地回路問題)
· 激光調制特性(例如頻率相關振幅傳遞函數)
· 聲噪聲源的識別
· 反饋回路特性(帶寬、伺服凸點、頻率漂移)
· 線寬減小/一致性控制(需要PID控制器,不包括在內)
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產品介紹

LWA-10k NIR


用于測量、分析和實時監(jiān)測激光器頻率噪聲的通用線寬分析儀

 

激光光源頻率和相位噪聲的表征從未如此簡單:LWA-10k使用戶能夠在寬波長范圍內以高精度表征和優(yōu)化激光光源,包括電信光源的O-/E-S-C-和L-波段,以及紅外范圍內量子光學應用的典型波長。

 

LWA-10k通過單模光纖提供激光(可使用任意光偏振),提供與激光器頻率偏差成比例的實時模擬電壓輸出。檢測技術基于干涉測量原理,因此不需要額外的高穩(wěn)定窄光基準。

 

可以使用提供的數字轉換器模塊和軟件套件對輸出進行分析,以定量分析噪聲。


產品型號及主要指標


分析單元

輸入

min.

max.

typ.

波長范圍 1)

1064 nm

1625 nm

1550 nm

輸入功率范圍

0.5 mW

8 mW

5 mW

輸入功率穩(wěn)定度

± 5 %

 

 

激光類型

CW,single-mode

 

 

輸出光纖類型

SM-FC/APC

 

 

Scan stroke (@ fscan > 10 Hz)

40 MHz

 

 

頻譜(光譜)和頻率噪聲規(guī)范 2)

底噪@典型。輸入功率和波長

10 Hz

100 Hz

1 kHz

10 kHz

100 kHz

> 1 Mhz

200 Hz/√Hz

100 Hz/√Hz

30 Hz/√Hz

20 Hz/√Hz

15 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

頻率噪聲密度范圍(Hz/√Hz)

10 M

最小固有線寬(洛倫茲線寬)

< 2 kHz

有效線寬范圍

< 1 kHz – 20 MHz(β-separation)

動態(tài)范圍

60 dB

1) 如需定制波長范圍,請聯系:sales@bonphot.com

2) 指定為1550 nm波長下的5 mW輸入功率。

 

分析單元

線型規(guī)格

有效線寬范圍 

< 5 kHz – 10 MHz(optical linewidth)[curve fitting method]

動態(tài)范圍

60 dB

頻率噪聲帶寬

10 Hz – 10 MHz

其他

接口類型

Ethernet

模擬輸入 

± 7.5 V (50 Ω)

產品尺寸

440 × 340 × 155 mm

產品重量

12.0 kg

數控模塊

掃描速率 (Sa/s)

62.5 M

分辨率

16 bits

采樣時間

1 ms – 100 ms

評估時間

10 ms – 1 s

接口

USB 3.0 type B

尺寸

210 × 200 × 74 mm

產品重量

2.0 kg

 

軟件

操作系統

Microsoft? Windows? 10, 64 Bit

CPU (minimum)

Intel? Core? i5 or equivalent

存儲 (minimum)

8 GB

圖形評估選項

頻率噪聲密度譜、線型譜、固有(洛倫茲)線寬、有效(光學)線寬

更多信息

有關更多技術信息、應用示例、圖表以及線寬分析儀的定制,請聯系:sales@bonphot.com 

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